Высокоточный измеритель длин волн SHR, имея невысокую цену, обеспечивает высокую точность измерения длины волны лазерного излучения. Применяется при настройке и проверке твердотельных, диодных лазеров, лазеров на красителях и оптических параметрических генераторах.
Оптическая схема SHR выполнена на базе дифракционной решетки Эшелле, работающей высоких порядках спектров и линейного сенсора, используемого в качестве детектора. Прибор не содержит подвижных элементов, питание и управление осуществляются с ПК через интерфейс USB с высокой пропускной способностью. Исследуемый свет попадает во входную щель прибора с помощью оптоволокна, оснащенного ослабителем.
SHR позволяет быстро и легко измерять абсолютные длины волн как непрерывного, так и импульсного излучения лазеров с высокой точностью - ±3 пм в широком спектральном диапазоне 190-1100 нм, а также измерять полуширины исследуемых линий с разрешением 30000 (?/?? < FWHM), что составляет от 6 пм в УФ области до 40 пм в ИК. SHR обеспечивает слежение в реальном времени за указанными величинами при настройке исследуемой длины волны.
SHR не используется напрямую для исследования плазменных и других густых спектров, тем не менее он может применяться для исследования узких спектральных интервалов со спектральной шириной порядка Эшелле – от 0.5 нм в УФ диапазоне (190 нм) до 18 нм в ИК (1200 нм), предварительно отделенных с помощью фильтров или других спектральных приборов.
Вы можете полностью доверять результатам вычисления полуширины, поскольку SHR сообщит, если полуширина исследуемой линии будет меньше, чем полуширина инструментального контура. Возьмем, например, лазер Nd:YAG в двух режимах: режиме свободных колебаний и режиме модуляции добротности. В режиме свободных колебаний полуширина линии 1064 нм менее 40 пм, и SHR сообщает, что не может разрешить ее полуширину. В режиме модуляции добротности линии широкая и может быть точно измерена с помощью SHR.
Параметр |
Значение |
Режим работы |
непрерывное и импульсное излучение (внешняя синхронизация) |
Спектральный диапазон работы, нм |
190 — 1100 |
Точность определения длины волны, пм |
± 3 |
Разрешение (λ/ΔλFWHM) |
30 000 (от 6 пм для 193 нм до 40 пм для 1200 нм, см. рис.1) |
Требования к ширине линии анализируемого излучения, не более |
≤125 см-1 (от 0.5 нм для 193 нм до 18 нм для 1200 нм, см. рис.2) |
Чувствительность |
менее 0.5 мкВт на 632,8нм для минимального времени накопления 7 мсек |
Оптический интерфейс |
-волокно оптическое кварцевое диам. 400мкм, длина 1м, разъем SMA-905 |
-диффузный ослабитель лазерного излучения FA-3 с разъемом SMA-905 |
|
Требования к внешнему синхроимпульсу (для импульсных лазеров): |
|
— полярность |
Положительная |
— амплитуда, В |
3 — 15 |
— длительность импульса по полувысоте, мкс |
5 — 20 |
— длительность фронта нарастания, мкс |
~ 10 |
— разъем синхронизации |
BNC-58 |
Связь с компьютером |
Full Speed USB интерфейс |
Программное обеспечение |
WLMeter |
Габариты, мм |
165 х 215 х 90 |
Вес, кг |
2,6 |
Номер модели | Наличие |
---|---|
SHR | Под заказ |
SHR-IR | Под заказ |