Описание

Высокоточный измеритель длин волн SHR, имея невысокую цену, обеспечивает высокую точность измерения длины волны лазерного излучения. Применяется при настройке и проверке твердотельных, диодных лазеров, лазеров на красителях и оптических параметрических генераторах.

Оптическая схема SHR выполнена на базе дифракционной решетки Эшелле, работающей высоких порядках спектров и линейного сенсора, используемого в качестве детектора. Прибор не содержит подвижных элементов, питание и управление осуществляются с ПК через интерфейс USB с высокой пропускной способностью. Исследуемый свет попадает во входную щель прибора с помощью оптоволокна, оснащенного ослабителем.

SHR позволяет быстро и легко измерять абсолютные длины волн как непрерывного, так и импульсного излучения лазеров с высокой точностью - ±3 пм в широком спектральном диапазоне 190-1100 нм, а также измерять полуширины исследуемых линий с разрешением 30000 (?/?? < FWHM), что составляет от 6 пм в УФ области до 40 пм в ИК. SHR обеспечивает слежение в реальном времени за указанными величинами при настройке исследуемой длины волны.

SHR не используется напрямую для исследования плазменных и других густых спектров, тем не менее он может применяться для исследования узких спектральных интервалов со спектральной шириной порядка Эшелле – от 0.5 нм в УФ диапазоне (190 нм) до 18 нм в ИК (1200 нм), предварительно отделенных с помощью фильтров или других спектральных приборов.

Вы можете полностью доверять результатам вычисления полуширины, поскольку SHR сообщит, если полуширина исследуемой линии будет меньше, чем полуширина инструментального контура. Возьмем, например, лазер Nd:YAG в двух режимах: режиме свободных колебаний и режиме модуляции добротности. В режиме свободных колебаний полуширина линии 1064 нм менее 40 пм, и SHR сообщает, что не может разрешить ее полуширину. В режиме модуляции добротности линии широкая и может быть точно измерена с помощью SHR.

Характеристики

Чертежи